|
|
Журнал
ПОВЕРХНОСТЬ Рентгеновские
синхротронные и нейтронные исследования Учредители: Российская
Академия наук, Отделение Общей физики и астрономии Институт
физики твердого тела РАН Журнал
публикует статьи широкого тематического профиля:
результаты экспериментальных и теоретических исследований в разных областях физики конденсированного
состояния, включая кристаллофизику, физику неупорядоченных систем, оптику, фотонику, биофизику, фазовые
переходы, сегнетоэлектрики, физику магнитных явлений, нанотехнологии и наноматериалы. Предметом исследований публикуемых статей и заказных
обзоров являются металлы, диэлектрики, полупроводники, твердотельные системы
низкой размерности, тонкие пленки. Журнал
издается с 1982 года (12 выпусков в год), включен в Перечень российских
рецензируемых научных журналов ВАК,
много лет индексируется в отечественных и зарубежных базах
данных, в том числе Russian Science Citation Index (RSCI) на платформе Российской базы цитирования РИНЦ, Web of Science, Scopus. Пятилетний импакт-фактор
РИНЦ - 0.863, RSCI WoS
Редакция журнала приглашает Вас публиковать свои статьи в нашем журнале и информирует
Вас о том, что в Журнале осуществляется - быстрая редакционная
поддержка на русском и английском
языке; - слепое рецензирование
осуществляется высококвалифицированными и доброжелательными рецензентами, при
этом возможно исключение нежелательных рецензентов (учитываются конфликты
интересов). - короткий
срок принятия статей в печать; с
2007г. компания "Pleiades Publishing, Inc."
и Международная академическая издательская компания
«Наука/Интерпериодика» издает журнал
на английском языке. _____________________________________________________________________________________________________________________ Англоязычная версия журнала Journal
of Surface Investigation. X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques выходит 6 раз в год. Входит в WoS Core Collection Impact
Factor 0.360. https://link.springer.com/journal/11700 The Journal of
Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques (Poverkhnost'. Rentgenovskie,
Sinkhrotronnye i Neitronnye Issledovaniya) publishes original experimental and theoretical articles and reviews
on the most topical problems of surface phenomena, surface structure,
physical and chemical properties, treatment and investigations of surfaces,
as well as thin films, interfaces etc. Special attention is given to the use
of X-ray, synchrotron and neutron methods of analysis. The Journal of Surface Investigation. X-ray,
Synchrotron and Neutron Techniques is abstracted and/or indexed in: Academic OneFile, Chemical Abstracts Service (CAS),
EI-Compendex, Expanded Academic, Google Scholar,
INSPEC, OCLC, SCImago, SCOPUS, Summon by ProQuest. Abbreviated title: J. Surf. Invest.: X-Ray,
Synchrotron Neutron Tech. |
||
· Состав редколлегии и редакционного совета ·
Этика журнала («Соблюдение действующего
Законодательства и общепринятых норм Издательской этики») ·
Лицензионный договор (для русской версии журнала) ·
Договор о передаче авторского права (для
англоязычной версии журнала) Фактический адрес
журнала (местонахождение): г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17а, филиал
Института кристаллографии им. А.В. Шубникова Уважаемые авторы! Отправляйте
Ваши статьи одновременно в редакцию журнала по электронной почте: e-mail: surf@crys.ras.ru, и через
издательский портал: https://publish.sciencejournals.ru/login в
журнал «Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования» Мобильный тел.: +7 916 188 71 41;
Телефон: +7(499)743-00-32 |
||||
Архив 1997-2013 |
Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования |
Journal
of Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques |
||