СОДЕРЖАНИЕ

 


Номер 12, 1999

 

ПЕРВОЕ РОССИЙСКО-ИТАЛЬЯНСКОЕ РАБОЧЕЕ СОВЕЩАНИЕ

" ПРИМЕНЕНИЕ РЕНТГЕНОВСКОГО И СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В СОВРЕМЕННОМ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ"

 

Краткая информация о Первом Российско-Итальянском рабочем совещании                                             

4

Рентгеновское дифракционное определение параметров новых тонких пленок на основе алмаза

Дж. Каппуччио, М. Л. Терранова, В. Сесса, С. Пиччирилло                                                                         

7

Достижения высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии в характеризации многослойных гетероструктур

Р. М. Имамов, А. А. Ломов, Э. М. Пашаев, А. М. Афанасьев, М. А. Чуев                                                   

11

Синхротронные рентгенодифракционные исследования металлических сверхслоев на Si(001)

П. Императори, Р. Фелиси                                                                                                                           

21

Дифракционные методы в исследовании структуры пленок Ленгмюра-Блоджетт

Л. А. Фейгин, В. В. Клечковская                                                                                                                      

35

Диагностика субмикронных люминесцентных пленок пористого кремния

В. А. Караванский, А. А. Ломов, Е. В. Ракова, С. А. Гаврилов. Н. Н. Мельник, Т. Н. Заварицкая, В. А. Бушу             

32

 Композиционно-градуированные буферные слои InGaAs/GaAs: разработка и определение параметров

К. Феррари, Л. Лаццарини, С. Дженнари                                                                                                   

40

Рентгеновский анализ по Ритвельду наноструктурных особенностей Pd/C-катализаторов

Дж. Фагерацци, П. Кантон, П. Риелло, Ф. Пинна, Н. Перницоне                                                              

50

Локальные особенности кристаллической и электронной структур сверхпроводящих

оксидов BaPb1-xBixO3Ba1-xKxBiO3

А. П. Менушенков                                                                                                                                          

56

 Букминстерфуллерены: влияние фторирования и изменения фазового состояния на электронную структуру

П. В. Дудин, Н. Ю. Свечников, В. Г. Станкевич, А. В. Баранов, А. В. Рыжков, В. Н.

Безмельницын, М. Комода,С. Хирозе, К. Канно, И. Акимото, Т. Мацумото, Н. Швентнер, Г. Сливински   

71

Некоторые особенности выхода мягких оже-электронов под действием рентгеновского излучения

Э. М. Пашаев, В. Н. Перегудов, А. Б. Вавилов                                                                                             

79

Станция белковой кристаллографии на источнике синхротронного излучения "Сибирь-2"

|Э. Г. Арутюнян\, Д. М. Хейкер, М. В. Ковальчук, Ю. Н. Шилин, В. А.                                                       

 88

Двухкристальный монохроматор для синхротронного излучения

М. В. Ковальчук,'В. В. Лидер, Ю. Н. Шилин, С. И. Желудева, В. А. Шишков                                            

95

Ортофосфот галлия - пьезо- и электроакустический материал. Выращивание монокристаллов

Л. Н. Демьянец, О. В. Зверева                                                                                                                    

101

Эксперименты по лауэвской фокусировке синхротронного излучения

Л. В. Забелин, В. А. Соменков, С. Ш. Шильштейн                                                                                    

110

Образование сверхрешеток при фазовых превращениях в TlGaSe2

Д. И. Исмаилов, Э. Ш. Алекперов, М. Ф. Алиева, Р. М. Султанов, М. А. Нуриев, Ф. И. Алиев, Р. Б. Шафизаде      

113

Математическое моделирование прохождения электронов через границу твердое тело-вакуум при малых изменениях работы выхода

А. Ю. Антонов, В. П. Денисов                                                                                                                    

116

Авторский указатель за 1999 г.                                                                                                                    

119