СОДЕРЖАНИЕ

Формирование одномерной структуры на поверхности акустического среза LiNbO₃ при отжиге

Е. В. Ракова                                                                                                                               

6

Синхротронное излучение для исследования магнитных материалов

С. Г. Овчинников                                                                                                                       

12

Рентгеновская рефлектометрия фуллеренсодержащих углеродных пленок

А. П. Петраков, Е. А. Голубев                                                                                                

15

О числе независимых структурных параметров тонких пленок по данным рентгеновской рефлектометрии

И. И. Самойленко,Л. А. Фейгин, Б. М. Щедрин, Л. Г. Янусова                                         

17

О корреляционных и интерференционных эффектах в многократном малоугловом рассеянии нейтронов

Ф. С. Джепаров, Д. В. Львов                                                                                                   

21

Исследование структурных изменений в трехкомпонентных микроэмульсиях типа вода-АОТ-изооктан методом малоуглового рассеяния

П. В. Конарев, Д. И. Свергун, В. В. Волков, М. X. Д. Кох, Д. Смеете, В. Ф. Ц. Загер   

25

Оценка структуры жидкостей в узких порах методом малоугловой рентгенографии

Г. М. Плавник, Т. П. Пуряева                                                                                                 

31

Рентгенодифракционное исследование структуры короткопериодных сверхрешеток CdSe/ZnSe с субмонослойными вставками CdSe

Р.Н. Кютт, А. А. Торопов, Т. В. Шубина, С. В. Иванов, С. В. Сорокин, М. Карлстиин,

33

М. Виландер                                                                                                                              

35

Расширение статистической теории динамического рассеяния к произвольным корреляционным длинам

А. М. Поляков                                                                                                                           

41

Решение обратной задачи реконструкции изображений в методе рентгеновского фазового контраста

В. А. Бушуев, А. А. Сергеев                                                                                                    

48

Применение трехкристальной дифрактометрии для исследования дефектности ионно-имплантированных слоев

К. Д. Щербачев, В. Т. Бублик                                                                                                                    

53

Формирование и диагностика межфазных границ раздела тонкопленочных структур

А. П. Алехин, С. Н. Мазуренко, В. Д. Белов, Н. И. Комяк                                                  

58

Исследование искажений кристаллической решетки в эпитаксиальных наноструктурах

А. П. Василенко, А. В. Колесников, С. Г. Никитенко, М. А. Ревенко, Л. В. Соколов, А. А. Федоров, Е. М. Труханов                                                                                                     

64

Энергетические характеристики структурной стабильности адатомов и ультрамалых кластеров кобальта на поверхности Си (001)

Н.А.Леванов,Д.И.Бажанов,В.С.Степанюк,В.Хергерт,А.А.Кацнелъсон,

А.Э.Мороз,А.А.Анищенко                                                                                                        

69

Структура двухкомпонентных пленок Ленгмюра-Блоджетт на основе липидной композиции дипальмитоилфосфатидилхолин/холестерин

Л. Л. Орехово, Л. И. Барсуков, В. В. Клечковская, С. В. Орехов                                       

74

Улучшение алгоритма оценки интенсивностей рефлексов в картинах электронной дифракции от монокристаллов программы CRYSP

И. А. Федоринин, В. В. Клечковская, С. Ховмюллер. М. Бострём                                      

77

Электронографическое и рефлектометрическое исследование структуры ленгмюровских пленок гексаалкокситрифениленов

Л. А. Валькова, В. В. Клечковская.Л. Г. Янусова, Г. И. Ивокин. К. Л. Сорокина, Л .А. Фейгин                                                                                                                                        

82

Прецизионное электронографическое исследование электростатического потенциала в бинарных кристаллах со структурой NaCI /".

Г. Лепетов, А. К. Кульччн, А. С. Авилов. С. М. Шкорнякон, В. Г. Цирельсон                  

87

Рентгенодифракционное и электронно-микросконическое исследования структуры нарушений, возникающих при химико-механическом полировании пластин кремния

С. В. Лебедев. К. М.Литвинов. М. Ю .Литвинов. А. С. Макаров, В. Ф. Павлов             

90

Наблюдение 360-градусной доменной границы в Fc-Ni-пленках

В. П. Панаэтов, В. М. Подчекаев, Ю. А. Симонов                                                              

94