С О Д
Е Р Ж А Н И Е
МАТЕРИАЛЫ XIII РОССИЙСКОГО СИМПОЗИУМА
ПО РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ
МИКРОСКОПИИ
И АНАЛИТИЧЕСКИМ МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ ТВЕРДЫХ
ТЕЛ
Cовременная ионная литография и тенденции ее
развития |
|
В.А.Злобин
|
6 |
Высокоориентированные пленки sp1-углерода |
|
В.Г.Бабаев, М.Б.Гусева, Н.Ф.Савченко, Н.Д.Новиков, В.В.Хвостов |
16 |
Новая фаза углерода с ГЦК-структурой |
|
М.Б.Гусева, В.Г.Бабаев,
И.Ю.Коняшин, Н.Ф.Савченко, В.В.Хвостов,
|
|
Ю.А.Коробов, В.Гудень,
А.П.Дементьев
|
28 |
Влияние адсорбции кислорода на вторично-ионную эмиссию из
меди |
|
Г.В.Адамов, М.К.Боброва, К.Ф.Миннебаев, Е.В.Сонг, Л.Б.Шелякин, И.Ф.Уразгильдин, |
36 |
Исследование эффектов зарядки диэлектриков в растровом
электронном микроскопе |
|
М.В.Андрианов, В.В.Аристов, А.В.Гостев, Э.И.Рау
|
40 |
Геттерирование кислорода на захороненный
дефектный слой, созданный имплантацией водорода |
|
А.В.Францкевич, Э.И.Рау,
Р.А.Сеннов, А.К.Федотов, А.В.Мазаник,
Н.В.Францкевич, Е.В.Журавкевич |
52 |
Катодолюминесцентный анализ алмазных пленок, выращенных
методом химического осаждения из
газовой фазы |
|
Д.В.Исаков, В.И.Петров, М.В.Чукичев,
Ф. Джон, Н.Полвард, Дж.Вилсон
|
57 |
Измерение малых диффузионных длин в полупроводниковых
материалах |
|
Е.Б.Якимов
|
65 |
Исследование микроструктуры углеродного
наноматериала, полученного на железо-никелевом
катализаторе |
|
А.А.Новакова, Т.Ю.Киселева,
Б.П.Тарасов, В.Е.Мурадян |
70 |
Природа включений в пленках YSZ на кремнии по результатам оже-профилирования
и исследования края кратера ионного
травления |
|
В.Г.Бешенков,
А.Г.Знаменский, В.А.Марченко
|
74 |
“Водородные” доноры и дефектные центры,
наблюдаемые в образцах ZnO, обработанных в
водородной плазме и облученных протонами |
|
А.В.Говорков,
А.Я.Поляков, Н.Б.Смирнов, С.Дж.Пиартон,
Р.Г.Вилсон |
78 |
Комплексный анализ состава и изучение структуры
индивидуальных микрочастиц, содержащих уран |
|
В.А.Стебельков,
О.Н.Колесников, Д.В.Муленко, А.И.Соколов, С.Г.Симанкин, Е.В.Потапов |
85 |
О возможности интервального оценивания параметров
полупроводников в като- долюминесцентной микроскопии. Результаты математического
моделирования |
|
Ю.Е.Гагарин, В.И.Петров, М.А.Степович
|
91 |
Особенности структуры легированных Sn и In кристаллов Bi2Te3-хSeх |
|
И.В.Гасенкова, Т.Е.Свечникова, А.М.Чапланов
|
95 |
Катодолюминесценция алмазных пленок |
|
Д.В.Исаков, В.И.Петров, М.В.Чукичев |
101 |
Особенности механического сплавления в системе Fe-In |
|
Т.Ю.Киселева, А.А.Новакова, Т.Ф.Григорьева, Р.С.Гвоздовер,
А.П.Баринова |
105 |
Исследование микроструктуры СВЧ-керамики |
|
Н.Д.Васильева, М.К.Дамбис, А.В.Долгов, В.А.Филиков,
А.П.Черкасов |
110-112 |