| 
                  
                  	
                  	
	
                  
              | 
  | 
                        
            
              
  
	 
         
			
			
	
			Сектор элементного и структурного анализа		
Сектор элементного и структурного анализа создан 1 мая 2012 в целях совершенствования методического принципа выполнения фундаментальных научных исследований и прикладных разработок в области физики конденсированного состояния и материаловедения и совершенствования работы Центра коллективного пользования ИФТТ РАН 
Рентгеноструктурный анализ – один из неразрушающих аналитических методов исследования различных материалов. Этот метод находит широкое применение в физике и химии твердого тела, физической химии, органической и неорганической химии, биохимии и др.   Исследования структурного состояния материалов методами рентгеновской дифракции и рентгеноструктурного анализа включают: 
- Определение параметров атомно-кристаллической структуры
 
- Качественный и количественный рентгенофазовый анализ
 
- Анализ структурно-неупорядоченных состояний
 
- Анализ структурных перестроек при фазовых переходах
 
- Характеризацию субструктуры материалов
 
 
Просвечивающая электронная микроскопия – метод изучения микроструктуры материалов вплоть до атомного уровня (электронная микроскопия высокого разрешения). 
Метод позволяет: 
- определять фазовый состав материала из анализа картин электронной дифракции;
 
- определять ориентационные соотношения между фазами;
 
- пределять кристаллографическую ориентацию и разориентацию зерен;
 
- проводить характеризацию дефектов кристаллической структуры (дислокации, дефекты упаковки, двойники, границы зерен).
 
 
Метод сканирующей электронной микроскопии применяется для характеризации структуры поверхностей материала. Комбинация сканирующего электронного микроскопа с детектором характеристического рентгеновского излучения позволяет получать информацию также и о составе образца. Возможности метода значительно расширяются при использовании приборов с двумя пушками – электронной и ионной (Dual Beam VERSA 3D). Такой прибор позволяет 
- проводить модификацию поверхностных и приповерхностных слоев образца;
 
- изготавливать высококачественные образцы для исследований методом ПЭМ;
 
- проводить исследование структуры и состава материалов;
 
- проводить 3D реконструкции структуры и состава образцов.
 
 
		 
			 
 
 
 | 
          
 
 
   
  
   | 
                     
  | 
 
                  
	
			
			| 
				Новости			 | 
		 
			
			
				
					
			Медаль Шехтману В.Ш.		
	
	 
За выдающийся вклад в развитие Института физики твердого тела РАН В.Ш. Шехтман был награжден медалью ИФТТ РАН. В связи с этой наградой, много теплых слов от имени директора, сотрудников ИФТТ и структурных лабораторий прилагается в послании. 
					
			Наша статья в CrystEngComm сейчас свободна для скачивания		
	
	Наша новая статья "Gearing motion in cogwheel pairs of molecular rotors: weak-coupling limit" CrystEngComm (2015) 17, 7829-7834 получила статус open access и может быть свободно получена по следующей ссылке. Приятного чтения! 
30.11.2015 
	 
			 | 
		 
		 
	
                   
                   |