• Определение кристаллографической ориентации монокристальных образцов. Метод Лауэ.
• Изготовление ориентированных срезов монокристаллов. Метод Лауэ. (совместно с Оптической мастерской).
• Рентгенфазовый анализ. Порошковая дифрактометрия. Метод Дебая (для малых образцов).
• Полнопрофильный анализ порошковых дифракционных спектров.
• Низкотемпературная порошковая дифрактометрия, 80-270К.
• Монокристальный структурный анализ, 15-450К.
• 3D микроскопия и элементный анализ

Рентгеновский дифрактометр Siemens-D500-BRAUN предназначен для исследования в основном поликристаллических материалов. Прибор позволяет характеризовать материалы методом полнопрофильного анализа порошковых дифракционных спектров (расширенный метод Ритвельда). Отличительные особенности: высокое спектральное разрешение и короткие времена съемки.

VERSA 3D HighVac – прибор, комбинирующий в себе возможности сканирующего электронного микроскопа и фокусированного ионного источника, предназначен для проведения исследований структуры и элементного состава поверхности образцов, а также их приповерхностных слоев. С помощью системы газо-химии на поверхность образца можно наносить проводящие покрытия и формировать микроструктуры. Специальное программное обеспечение позволяет проводить реконструкцию и визуализацию 3D структуры материала.

Монокристальный дифрактометр Oxford Diffraction Gemini оснащенный CCD детектором служит для сканирования образца с целью определения качества кристалла и параметров элементарной ячейки, автоматического сбора полной дифракционной картины от образца с разрешением до 0.35 A. Дифрактометр оснащен различными температурными приставками позволяющими проводить рентгендифракционные исследования образцов в температурном интервале 15 - 800 K или под давлением до 50 ГПа в камере с алмазными наковальнями (Diamond Anvill Cells DAC). Возможность работы на двух длинах волн (MoKa и CuKa) позволяет использовать кристаллы как органических соединений, так и неорганику.

Источник рентгеновского излучения с вращающимся анодом Rigaku-RU200 предназначен для генерации мощного рентгеновского излучения. Для источника предусмотрены сменные аноды Cu и Mo. Два окна выхода рентгеновского излучения дают возможность остнастить установку двумя гониометрами увеличивая методические возможности лаборатории.

Рентгеновский дифрактометр с точечным детектором Enraf Nonius CAD-4 предназначен для определения параметров монокристаллических образцов и сбора массива дифракционных отражений  с них. Благодаря конструкции гониометра (κ-геометрия) прибор способен выводить любое дифракционное отражение в плоскость движения детектора и сканировать рефлекс вдоль различных направлений

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4-07 является универсальным дифрактометром и может быть использован для исследования как монокристаллов, так и поликристаллических веществ. Двухосевой гониометр позволят работать в режимах θ-, 2θ- и θ-2θ сканирования. Обновление системы управления гониометром в 2020 году расширило спектр применения этого прибора.

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М является универсальным дифрактометром и может быть использован для исследования как монокристаллов, так и поликристаллических веществ. Двухосевой гониометр Siemens позволят работать в режимах θ-, 2θ- и θ-2θ сканирования. На гониометр дополнительно можно устанавливать блок для исследования текстуры или высокотемпературную приставку.

Рентгеновский аппарат УРС-2 позволяет проводить рентгеносъемку в шести рентгеновских камерах с фотографической регистрацией. На аппарате установлены две рентгеновские трубки с разными анодами (Cu и Mo), которые могут работать одновременно. На аппарат устанавливаются следующие камеры: РКСО-2 (лауэграммы прямая и обратная), РКВ-86А (вращение/качание), РКОП-А (лауэграммы и качание), КФОР-4 (регистрация плоскостей обратной решетки)