ЧАСТЬ I Методы исследования атомнокристаллической структуры материалов

1. Качественный фазовый анализ при регистрации дифракционной картины на пленку (дебаевский метод)

2. Рентгеновская дифрактометрия

3. Метод Лауэ. Определение ориентации монокристаллического образца. Моделирование лауэграмм на ПК.

4. Метод качания. Определение периодов идентичности по рентгенограмме монокристалла. Индицирование рефлексов.

5. Индивидуальное задание

ЧАСТЬ II Методы исследования реальной структуры и атомного состава кристаллов

1. Исследование реальной структуры монокристаллов методом Ланга

2. Изучение дефектов в кристаллах методом просвечивающей электронной микроскопии.

3. Изучение структуры поверхности материалов методом растровой электронной микроскопии (РЭМ)

4. Определение качественного и количественного состава многокомпонентных сплавов методом электронно-зондового микроанализа.

1. Пиковольтметр на основе сверхпроводящего квантового интерферометра.

2. Визуализация вихревых структур методом декорирования ферромагнитных частиц.