Thu-01S 10:00 - 10:30 20+5 | Алексей Игоревич Иванов ИФТТ РАН 142432, г. Черноголовка, ул. Академика Осипьяна, д.2 Высокотемпературная оптическая микроскопия – высокоэффективный метод исследования электродных материалов, керамических клеев и стекол для единичных ТОТЭ и батарей. Возможности прибора Misura 3 HSML. |
Thu-02S 10:30 - 11:00 20+5 | Владислав Андреевич Колотыгин ИФТТ РАН 142432, г. Черноголовка, ул. Академика Осипьяна, д.2 Дилатометрический анализ в контролируемых газовых средах. Исследование термического и химического расширения ионных и смешанных проводников. Возможности прибора Linseis L75. |
Thu-03S 11:00 - 11:30 20+5 | Дмитрий Александрович Агарков ИФТТ РАН 142432, г. Черноголовка, ул. Академика Осипьяна, д.2 Термогравиметрический анализ и дифференциальный термический анализ как методы исследования исходных соединений и электродных процессов. Возможности прибора Setaram Setsys Evo 16/18. |