Научно методическая работа является важной составной частью работы ИФТТ. Она призвана удовлетворить потребности сотрудников других подразделений ИФТТ РАН как непосредственно в структурных экспериментах, так и интерпретации полученных результатов. Методическая работа включает в себя выполнение исследований по заказам сотрудников других лабораторий. Она состоит из непосредственно съемок и определения требуемых характеристик образца, таких как фазовый состав, ориентировка мотокристаллов, размера и форма структурных составляющих, определение химического состава. Эти работы делятся на следующие группы.

Рентгенографические работы:

•  Фазовый анализ поликристаллических материалов.

•  Аттестация монокристаллов, определение ориентации монокристаллов, подготовка ориентированных кристаллических срезов, определение сингонии и расчет параметров решетки по рентгенограммам качания.

•  Работа с базой структурных данных

•  Полнопрофильный анализ порошковых спектров

Элетронномикроскопические работы:

•  Предоставление электронных микроскопов для самостоятельной работы подготовленных сотрудников других лабораторий и их обслуживание

•  Выполнение заказов на исследования с помощью просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии

•  Определение состава образцов методом локального рентгеноспектрального микроанализа.

Оборудование:

В ЛСИ имеется следующее экспериментальное оборудование:

рентгеновские дифрактометры Siemens D-500 и ДРОН-4, ДРОН -2 с возможностями проведения съемок при низких и высоких температурах

Монокристальный 4-х кружный дифрактометр Enraf-Nonius CAD4.

Оборудование для съемок рентгеновских топограмм: спектрометр на базе источника D 4 C и гониометра A -4 (фирма Rigaku ), спектрометр на базе источника RU -200 и гониометра A -4 (фирма Rigaku ), двукристальный спектрометр УРТ-2 (Россия)

Оборудование для аттестации образцов с использованием методов Дебая, Ланга, Лауэ, ШРП.

Сканирующие электронные микроскопы JSM 25 S , Supra 50VP c возможностями энергодисперсионного и волнового микроанализа

Просвечивающие электронные микроскопы JEM-100CX и JEM-100CX-11,

Высокоразрешающий электронный микроскоп JEOL – 4000 EX

Оборудование для подготовки электронно-микроскопических образцов: установки для напыления тонких слоев различных материалов, ионной и электролитической полировки образцов и др., компьютерные программы обработки экспериментальных данных.