www.issp.ac.ru ENG
 
 

Нанокристаллические металлические материалы

Низкоразмерные органические проводникои

Преобразователи ионизирующего излучения

Оксидные материалы с перовскитной структурой (Bi соединения, манганиты)

Аномальные структурные состояния, роль дефектов в структурных и фазовых превращениях

Реальная структура фуллеренов и молекулярные комплексы фуллеренов

Монокристаллические ленты тугоплавких металлов

Бинарные системы sp металлов при высоких давлениях

Структура реального кристалла

Научные исследования, проводимые в лаборатории можно условно подразделить на несколько групп:

1. исследования реальной структуры и фазовых превращений, установление корреляции структуры и свойств

•  в аморфных и нанокристаллических материалах

(А.С.Аронин, Г.Е.Абросимова, И.И.Зверькова, О.Г.Рыбченко, Д.В.Матвеев, Е.Ю.Игнатьева)

•  в низкоразмерных органических проводниках

(Р.П.Шибаева, С.С.Хасанов, Л.В.Зорина, С.В.Симонов)

•  в сцинтилляторах

(С.З.Шмурак, А.П.Киселев)

2. исследования структуры и фазовых переходов при различных условиях

•  в материалах ВТСП и других оксидных системах c о структурой перовскита (В.Ш.Шехтман, В.Д.Седых, В.А.Гончаров, И.К.Бдикин)

•  в апериодических системах (И.М.Шмытько, Н.С.Афоникова, Е.А.Кудренко)

•  в металлах, сплавах и бинарных системах sp металлов при высоком давлении (В.Ф.Дегтярева, Л.Н.Пронина, И.М.Аристова, А.А.Мазилкин)

•  в фуллеренах и фуллереновых комплексах (С.С.Хасанов, О.Г.Рыбченко, Г.Е.Абросимова, В.Ш.Шехтман)

3. исследования реальной структуры кристаллов

•  Изучение дифракционных механизмов образования дифракционного изображения дефектов кристаллической решетки
( Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков)

•  Исследование тонких приповерхностных эпитаксиальных слоев методами рентгеновской дифракционной оптики
( Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков)

 

 
 

Copyright ©2005 LSR ISSP RAS