1. Personal

Родился в СССР (г. Бузулук, Оренбургской области) 7 ноября 1937 года.

2. Образование

Окончил Ташкентский Гос. Университет, физический факультет, Инженер-физик 1960;

Кандидат физико-математических наук 1974, Институт Физики твердого тела АН СССР;

Доктор физико-математических наук 1982, Институт Физики твердого тела АН СССР;

3. Работа с начала трудовой деятельности

1960/62 - Ассистент, Ташкентский Гос. Университет

1962/64 - Старший преподаватель, Ташкентский Гос. Университет

1964/67 - Аспирант Физического факультета Московского Гос. Университета

1967/70 - Старший инженер, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

1970/76 - Младший научный сотрудник, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

1976/80 - Старший научный сотрудник, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

1985 - Ст. преподаватель, МИСиС по совместительству,

1989 - Доц. МИСиС

1988/92 - Зам. директора по научной работе, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

1999 – профессор МИСиС

1980 – 2003 Заведующий лабораториейй рентгеновской оптики и электронной микроскопии, Институт Физики твердого тела АН СССР, Черноголовка

2003 – по настоящее время Главный научный сотрудник ИФТТ РАН

4. Научные интересы

Физика дифракции рентгеновских лучей и электронов, Рентгеновская дифракционная оптика, Рентгеновская топография, Дифракционный контраст дефектов, Электронная микроскопия, Реальная структура полупроводников, металлов и высокотемпературных сверхпроводников.

СПИСОК

публикаций Э.В.Суворова за 1998-2005 гг.

1. С.И.Божко, В.А.Гончаров, Е.Ю.Игнатьева, А.М.Ионов, В.И.Кулаков, Ю.А.Осипьян, Э.В.Суворов

Дифракционное исследование структурного упорядочения атомов в интеркалированных йодом сверхпроводящих монокристаллах Bi 2 Sr 2 CaCu 2 I x O y

Поверхность, 1998, №12, 7-14.

2. M.V.Kovalchuk, E.V.Suvorov, O.P.Aleshko-Ozhevskii, Yu.V.Pisarevskii, V.L.Nosik, L.A.Smirnova, M.A.Solomko

Investigation of Elastic Deformation in Vibrating Crystal ,

Nuclear Instruments and Methods in Phusics Research A 405, (1998), 449-453

3. V.Sedykh, B.Sh.Bagautdinov, E.V.Suvorov, I.S.Smirnova, A.V.Dubovitskii, V.Sh.Shekhtman The effect of Pb on the behavior of structure modulation in Bi 2-x Pb x Sr 3 Fe 2 O y isostructural with Bi 2 Sr 2 CaCu 2 O 8

Physica C , v .303, No .3-4, (1998) 175-186.

4. Э.В.Суворов Физические основы современных методов исследования реальной структуры кристалов, Подмосковный филиал МГУ, 1999, книга, 231стр.

5. И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков, Э.В.Суворов, О.П.Алешко-Ожевский, Динамический контраст секционных топограмм при возбуждении в объеме кристалла поперечных акустических волн, Поверхность 2000, 1, 99-105

6. И.А.Смирнова, Э.В.Суворов, Е.В.Шулаков, Исследование скоплений дефектов со слабыми и быстро убывающими полями в кристаллах кремния методами рентгеновской дифракционной микроскопии, Рентгеновская оптика, Н.Новгород, 2000, 73-80

7. V. Sedykh, I.S. Smirnova, E.V. Suvorov, A.V. Dubovitskii, V.I. Kulakov

The Effect of Vacuum Annealing on Structure Modulation in the Bi2Sr3Fe2Ox Compound

Physica Physica C , v .336, (2000) 239-243

8. В.Ш.Шехтман, Э.В.Суворов Рентгендифракционные и электронно-микроскопические методы анализа атомно-кристаллической структуры материалов. Лабораторный практикум (методическое пособие для студентов и аспирантов), Черноголоовка, 2000 год, 138 страниц.

9. V.Sedykh, I.S.Smirnova,B.Bagautdinov, K.Hagiya, M.Ohmasa, E.V.Suvorov, A.V.Dubovitskii, V.Sh.Shekhtman

The structure modulation in the Bi2Sr4Fe2O10 compound

Physica Physica C , v .355 (2001) 87-96

10. Э.В.Суворов, И.Л.Шульпина, Рентгеновская оптика кристаллов с дефектами,

Поверхность 2001, 7, 03-23

11. М.Г.Мильвидский, Ю.А.Осипьян, И.А.Смирнова, Э.В.Суворов, Е.В.Шулаков, Наблюдение микродефектов в кремнии методами рентгеновской топографии,

Поверхность 2001, 6, 05-11

12. Э.В.Суворов, И.Л.Шульпина, Рентгеновская оптика кристаллов с дефектами,

Поверхность 2001, 7, 03-23

13. М.Г.Мильвидский, Ю.А.Осипьян, И.А.Смирнова, Э.В.Суворов, Е.В.Шулаков, Наблюдение микродефектов в кремнии методами рентгеновской топографии,

Поверхность 2001, 6, 05-11

14. V.Sedykh, I.S.Smirnova,B.Bagautdinov, K.Hagiya, M.Ohmasa, E.V.Suvorov, A.V.Dubovitskii, V.Sh.Shekhtman

The structure modulation in the Bi2Sr4Fe2O10 compound

Physica Physica C , v .355 (2001) 87-96

15. Е.В.Шулаков, И.А.Смирнова, Э.В.Суворов Топографический контраст приповерхностных дефектов в геометрии Бомана-Леемана,

Поверхность 2002, 1, 101-106

16. V.Sedykh, I.S.Smirnova, B.Bagautdinov, K,Hagiya, E.V.Suvorov, A.V.Dubovitskii, V.Sh.Shekhtman Relationship beetween the structure modulation and cation non-stoichiometry in the “Bi-232” ferrate,

Physica C 377, (2002), 553-560

17. Е.В.Шулаков, И.А.Смирнова, Э.В.Суворов Контраст Номарского при формировании изображения дефектов в геометрии Брегга

Поверхность 2003, №2 32-38

18. И.А.Смирнова, Э.В.Суворов, Е.В.Шулаков Особеннности формирования рентгеновского дифракционного изображения дислокаций в различных участках треугольника рассеяния

Поверхность 2004, 4, 100-104

19. Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков Дифракционное изображение дислокаций, расположенных в плоскости рассеяния перпендикулярно вектору отражения.

Поверхность 2004, 09, 64-68

20. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В. Тонкая структура изображения дислокаций расположенных в плоскости рассеяния перпендикулярно вектору отражения.

Рентгеновская оптика – 2004, материалы конференции, Нижний новгород 2-6 мая 2004, с.93-97

21. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В. Особенности изображения дислокаций, расположенных в плоскости рассеяния перпендикулярно вектору отражения.

Современные методы анализа дифракционныхданных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия), Материалы конференции, Великий Новгород 26-28 мая 2004, с.117-121

22. Смирнова И.А., Суворов Э.В., Шулаков Е.В., Мартиросян М.С. Роль поглощения в формировании дифракционного изображения краевой дислокации в плоскости рассеяния,

Нанофизика и наноэлектроника – 2005, Материалы симпозиума, Н.Новгород, 25-29 марта 2005 года, с.284-285

23. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В. Особенности дифракционного изображения краевых дислокаций для двух ориентаций вектора Бюргерса ( ) относительно вектора дифракции ( ) - и ,

Нанофизика и наноэлектроника – 2005, Материалы симпозиума, Н.Новгород, 25-29 марта 2005 года, с.286-287.

24. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В. Дифракционное изображение дислокаций, расположенных в плоскости рассеяния перпендикулярно вектору отражения,

Поверхность 2005, 08, 67-72

25. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Шулаков Е.В. Влияние толщины кристалла и Роль поглощения в формировании рентгеновского дифракционного изображения дислокаций,

Поверхность 2005, 12, -