Конференция проводилась при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований и разработчиков сканирующих зондовых микроскопов и приборов для комплексного анализа поверхности и наноструктур (компании НТ-МДТ Спектрум Инструментс, Intertech Corporation). В конференции приняли участие ведущие российские специалисты в области физики поверхности и сканирующей зондовой микроскопии из ИФМ РАН, ИОФ РАН, МГУ им. Ломоносова, ИРЭ РАН, МИФИ, МФТИ, ФМБА, ИПХФ РАН, НИУ МИЭТ, ИПТМ РАН и ИФТТ РАН. На конференции было сделано 24 устных доклада по результатам исследований атомной структуры и физических свойств (транспортных, сверхпроводящих, магнитных) объектов нанометрового размера с использованием методик атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопии.
Новые разработки и возможности применения сканирующей зондовой микроскопии для исследования разнообразных объектов атомарного масштаба были представлены в докладах компаний и групп, специализирующихся на разработке зондовых микроскопов высокого разрешения. Компанией Intertech Corporation были продемонстрированы возможности использования атомно-силовой микроскопии для исследования биологических объектов в жидких средах с высоким пространственным разрешением. Компанией НТ-МДТ (Зеленоград) была представлена новая методика проведения СЗМ-экспериментов с использованием системы «ScanTronic», позволяющей оптимизировать параметры сканирования в автоматическом режиме. В докладе компании Omicron были представлены возможности анализа поверхностных атомных структур в условиях сверхвысокого вакуума с использованием оборудования Scienta-Omicron. Группой из НИУ МИЭТ были показаны примеры использования сканирующих туннельных микроскопов для технологических исследований наноструктур при высоких температурах (вплоть до 1500 C) в атмосфере агрессивных газов. Программный и Организационный комитет благодарят всех участников конференции за участие и надеются на новую встречу. Информация о конференция на сайте http://www.issp.ac.ru/SPM_Appl/.