Введение в физику поверхности
Автор программы: д. ф.-м. н., Ионов А.М.
Цель дисциплины: Изучение основ методов исследования электронной и атомно-кристаллической структуры поверхности и возможности их применения при исследовании новых материалов.
Задачи: ознакомить студентов с физическими основами методов исследования поверхности, с инженерными основами вакуумной техники и развитие у студентов навыков физического мышления, умения ставить и решать задачи по физике систем, свободно владеть основными определениями и терминологией в рамках данного курса. Задача курса состоит в изложении базовых знаний о том, как устроены поверхности твердых тел, какими специфическими свойствами они обладают, и какие процессы протекают на поверхности. В курсе рассматриваются атомная и электронная структура поверхности, поверхности раздела металл - полупроводник, гетероструктуры, адсорбция, химические реакции и рост пленок, а также основные современные методы исследования поверхности.
Краткое содержание дисциплины:
1 | Введение. Роль поверхности в различных физико-химических процессах. |
2 |
Физика и техника сверхвысокого вакуума. Особенности газодинамики при низких давления. Длина свободного пробега молекул. Степени вакуума. Механические безмасляные насосы - диафрагменные, турбомолекулярные насосы. Пароструйные, магниторазрядные, ионосорбционные, криогенные насосы. Методы измерения давления в вакуумных системах. Основные элементы конструкций вакуумных систем. Материалы, используемые в вакуумной технике. Методы получения атомарно-чистой поверхности: термическая десорбция; ионное травление; каталитические реакции; напыление; скол в вакууме. |
3 |
Основы двумерной кристаллографии. Двумерные решетки. Индексы Миллера плоскостей кристалла. Индексы направлений. Описание структуры поверхности. Двумерная обратная решетка. Атомная структура поверхности. Релаксация, реконструкция, их механизмы. Связь физических свойств поверхности с ее структурой. Структурные дефекты поверхности. |
4 |
Методы исследования поверхности. |
5 |
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: физические основы метода, особенности эксперимента и оборудование. |
6 |
Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия. Исследования с применением синхротронного излучения. Резонансная фотоэмиссия. |
7 |
Электронная Оже-спектроскопия. |
8 |
Методы и принципы ионной спектроскопии. Масс-спектроскопия вторичных ионов: физические основы метода, особенности эксперимента и оборудование. Термодесорбционная спектроскопия. |
9 |
Зондовые методы исследования поверхности. Сканирующая туннельная микроскопия. Атомно-силовая микроскопия. ИК и рамановская спектроскопия. |
10 |
Электронная структура и свойства поверхности. |
11 |
Электронные и атомные процессы на поверхности твердых тел. |
12 |
Диффузия на поверхности твердых тел. |
13 |
Рост и структура тонких пленок. |
14 |
Формирование наноструктур. Атомное и молекулярное наноманипулирование. |
Общая трудоемкость дисциплины: 2 зачетные единицы.
Форма промежуточной аттестации: зачет с оценкой.