Элементы кристаллографии. Элементарная ячейка. Элементы симметрии и их сочетания. Кристаллографические точечные группы и сингонии. Стереографическая проекция.

2

Трансляционные элементы симметрии. Решетки Браве. Матричное представление элементов симметрии. Символика пространственных групп.

3

Орбиты точек. Общие и частные положений в кристаллической структуре. Полное описание известной структуры кристалла. Плотнейшие шаровые упаковки. Дефекты упаковки. Кристаллические многогранники. Простые формы фигур.

4

Получение рентгеновских лучей и их взаимодействие с веществом. Спектр в рентгеновском диапазоне. Поглощение и рассеяние рентгеновских лучей в веществе. Детекторы рентгеновского излучения.

5

Рассеяние свободным электроном. Формула Томсона. Атомная амплитуда рассеяния. Температурный фактор.

6

Интенсивность рентгеновских рефлексов. Рассеяние одной элементарной ячейкой. Структурная амплитуда. Погасания.

7

Основные дифракционные схемы в представлении обратной решетки: метод Лауэ, метод порошка, метод вращения (качания), дифрактометрия поликристаллического объекта и монокристалла.

8

Определение неизвестной структуры. Экспериментальные и расчетные методы определения координат атомов в ячейке. Метод проб и ошибок. Синтез Паттерсона. Синтез Фурье. Прямой метод.

9

Задачи анализа металлических систем. Идентификация фазовых областей на диаграммах состояния. Упорядочение твердых растворов. Экспериментальные задачи при исследовании структурных превращений и апериодических кристаллов.

10

Электронография. Принцип и особенности метода дифракции электронов. Области применения.

11

Нейтронография. Ядерное рассеяние — принципы применения. Магнитное рассеяние, определение упорядочения магнитных моментов в структуре ферро- и антиферромагнетиков.

12

Рентгеновская дифракционная микроскопия. Анализ реальной структуры кристалла. Методы изучения совершенных кристаллов.