Спектроскопии поверхности полупроводников

Заведующий лабораторией: Молотков Сергей Николаевич

тел.: 2-29-82, e-mail: molotkov@issp.ac.ru

Основные направления исследований:

1. Исследования электронной и атомно-кристаллической структуры, транспортных свойств полупроводниковых и сверхпроводящих соединений, у льтратонких слоев металлов на поверхности полупроводников методами фотоэлектронной спектроскопии, дифракции медленных электронов, туннельной микроскопии и спектроскопии;
2. Создание низкоразмерных структур (квантовые точки, нити, 2Д метарешетки) металлов и полупроводников на поверхностях полупроводников, металлов и квазидвумерных опаловых матриц и их исследование методами зондовой микроскопии (АФМ, СТМ) и электронной спектроскопии

ПОДРОБНЕЕ >>